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2008年度静電気障害防止技術シンポジウム−エレクトロニクスにおける静電気障害と対策

2008年度静電気障害防止技術シンポジウムでは、エレクトロニクス関連の静電気障害とその対策を扱います。内容は、半導体デバイス、ディスプレイデバイス、磁気デバイス等の電子デバイスの製造工程、およびこれらのデバイスの組み立て工程、実装工程における静電気障害とその対策を中心に討論を行います

日時 2008年11月25日 9時25分から16時55分

場所 東京大学山上会館

本郷三丁目駅(地下鉄丸の内線),湯島駅又は根津駅(地下鉄千代田線),東大前駅(地下鉄南北線)

講演プログラム・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・

9:25-9:30

小田哲治(東京大学)開会挨拶 

9:30-10:30

吉田孝博(東京理科大学工学部)金属電極間のESDにおける放電電流波形と放射電磁ノイズ 

10:30-11:30

高橋 忠(トレック・ジャパン)静電気障害の判定と対応策の構築

休憩 11:30-12:30

12:30-13:30

日吉 功(シシド静電気)小型低周波交流高圧電源とこれを用いたイオナイザの特性

13:30-14:40

鈴木輝夫(春日電機)静電気障害の原因となる現象と静電気測定の基礎

休憩 14:40-14:50

14:50-15:50

福田保裕(沖エンジニアリング)半導体デバイスの静電気障害

15:50-16:50

村上俊郎(原田産業)半導体製造工程における静電気対策について SEMI Standard E-78とE-129の紹介と動向について

16:50-16:55

岡野一雄(職業大)閉会挨拶

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定員は120名です。
事前申込みされる方は,郵便,ファックスまたはE-mailで下記へお申込下さい。

参加費

静電気学会会員:5,000円,非会員:10,000円
(当日受付にてお支払い下さい。)
申込・問合先 〒113-0033 東京都文京区本郷4-1-3 シャルム’80 静電気学会事務局
電話:03-3815-4171  Fax: 03-5841-6786
E-mail:iesjアットマークiesj.org
(アットマークを半角1文字のアットマークに変えてください)

2008年静電気学会シンポジウム実行WG